加速壽命試驗(yàn)簡(jiǎn)介
隨著電子元器件可靠性水平的不斷提高，采用常規(guī)的正常應(yīng)力下的長(zhǎng)期壽命試驗(yàn)實(shí) 在太耗費(fèi)人力、物力和時(shí)間了，有時(shí)甚至是不可能的。人們經(jīng)過長(zhǎng)期的實(shí)踐，提出一種加 速試驗(yàn)的方法來(lái)解決這一矛盾。
所謂加速壽命試驗(yàn)就是用加大應(yīng)力的方法促使樣品在短時(shí)期內(nèi)失效,從而預(yù)測(cè)電子 產(chǎn)品在正常儲(chǔ)存條件或工作條件下的可靠性。例如將器件置于比較髙的熱、電等應(yīng)力條 件下使之加速失效，并從中求出加速系數(shù)。這樣就可以在較短時(shí)間內(nèi)通過少量樣品的髙 應(yīng)力試驗(yàn)，推算出產(chǎn)品在正常應(yīng)力下的可靠性水平,以供用戶設(shè)計(jì)時(shí)參考,或作為工藝對(duì) 比及合理制定工藝篩選條件和例行試驗(yàn)規(guī)范的依據(jù)。同時(shí)，結(jié)合失效分析,還可以隨時(shí)了 解造成產(chǎn)品不可靠的主要因素(主要失效模式和失效機(jī)理），并迅速反饋到有關(guān)設(shè)計(jì)或制 造部門加以改進(jìn)及糾正。因此，加速壽命試驗(yàn)不僅節(jié)省了人力、物力和時(shí)間,并且結(jié)合失 效分析技術(shù)已發(fā)展成為控制、提髙半導(dǎo)體器件等電子元器件可靠性的一種行之有效的好 辦法，所以國(guó)內(nèi)外普遍采用。
加速壽命試驗(yàn)所加的應(yīng)力有溫度、功率、電壓、電流或者振動(dòng)、沖擊、離心加速度等應(yīng) 力，常用的試驗(yàn)方法有高溫儲(chǔ)存、高溫工作、超功率工作、卨溫髙濕儲(chǔ)存、高溫反偏等加速 試驗(yàn)。其中，高溫儲(chǔ)存加速試驗(yàn)Z容易成功,加電功率的加速壽命試驗(yàn)比較困難。
從施加應(yīng)力方式的不同又可將加速壽命試驗(yàn)的應(yīng)力分為恒定應(yīng)力、步進(jìn)應(yīng)力和續(xù)進(jìn) 應(yīng)力3種。將樣品分成幾組,每組固定一個(gè)保持不變的應(yīng)力(其水平高于正常條件）的試 驗(yàn)稱為恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn);隨時(shí)間分階段逐步增強(qiáng)的試驗(yàn)稱為步進(jìn)應(yīng)力加速壽命試 驗(yàn);隨時(shí)間等速連續(xù)增強(qiáng)應(yīng)力的試驗(yàn)稱為續(xù)進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)。兩者比較起來(lái)，恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)造成失效的因 素較單一，準(zhǔn)確度較高，試驗(yàn)較容易取得成功?，但試驗(yàn)周期比較長(zhǎng)。
 
加速試驗(yàn)的主要缺點(diǎn)是產(chǎn)品在高應(yīng)力下的退化方式可能與正常應(yīng)力水平下的不同。 理想的情況應(yīng)該是高應(yīng)力水平作用下的器件退化方式與正常應(yīng)力水平下的應(yīng)仍然相同， 惟一不同的只是時(shí)間加速了。也就是說:一小時(shí)高應(yīng)力水平的試驗(yàn)?zāi)墚a(chǎn)生/小時(shí)正常應(yīng)力 水平式驗(yàn)*一樣的效果。如果確定是這樣，可以說達(dá)到“真實(shí)"加速了。事實(shí)上，真實(shí)加 速是不能得到的。盡管如此,其試驗(yàn)結(jié)果仍然有很大的參考價(jià)值。加速壽命試驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn) 是可以縮短試驗(yàn)周期，節(jié)省樣品和費(fèi)用,缺點(diǎn)是預(yù)測(cè)的準(zhǔn)確度較低。